系列配合起偏，檢偏及DIC微分干涉，可以很好的觀察屏的導電粒子，確認導電粒子個數是否符合要求。

首先，需要觀察導電粒子必須要有配有DIC及起偏檢偏器的金相顯微鏡。對于觀察導電粒子來說一般選用的鏡頭是要求為不超過20倍為好，超過后會由于景深的問題導致觀察效果模糊，無法觀察到好的效果。

準備好金相顯微鏡及必要的屏后就可以開始觀察導電粒子了。首先把DIC及起偏檢偏拉出，然后把屏放置在載物臺上，調整好焦距，通過載物臺移動后找到觀察位置。現在插入起偏及檢偏器，通過目鏡觀察屏上位置，再調節檢偏器，直到光線黑時停止調節檢偏器。后插入DIC,調節DIC進行偏光直到看到導電粒子清晰時就可以停止了。

產品名稱：導電粒子顯微鏡
產品型號：PZ-JTM-5040H
產品簡介：主要用于LCD、PDP、PCB等相關的光電產業，為其研發、制造提供所需的檢測設備。具有觀察OLB壓接粒子分布、液晶板表面貼附的異物、液晶板劃傷情況、測量導電粒子大小、數量等功能

產品特點：

導電粒子顯微鏡是一種兼顧影像與目視兩用的高精度、率測量儀器。它具有電視成像與目視光學兩套瞄準系統，是集光、機、電、算、影像于一體的測量型金相顯微鏡。該儀器廣泛用于電子組件、精密模具、精密刀具、塑料、PCB加工等方面，不僅可用作坐標測量，還可以目鏡標準分劃板作顯微放大比較測量，測量螺紋的節距、外徑、牙角等工件尺寸或外形輪廓，ACF導電粒子形狀和瑕疵觀察，除應用于長度、角度測量外，還可作為觀察顯微鏡。是機械、電子、儀表、鐘表、輕工、塑料行業，院校、研究所和計量檢定部門的計量室、實驗室已經生產車間*的計量檢測設備之一。

1. 符合人機工程學設計準則方便操作測量

2. 工作臺一鍵式氣動單手快速移動操作

3. 可實現Z軸自動對焦

4. 具有偏光和DIC檢測功能

5. 采用被動式減震裝置，提高整機精度穩定性

6. 開發QMS3D-M軟件，高清晰進口1/2"彩色攝像機

7. 可通過激光指示器尋找被測工件的具體位置，可適應復雜工件的測量

8. 可實現高度輔助測量

9. Z軸光柵尺分辨力為0.1μm

10. 同軸光/底光測量

11. 可搭配白光納米檢測模塊測量納米級厚度

規格參數：

北京品智創思精密儀器有限公司