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液晶顯微鏡
2019-08-21
該光學自動化檢測設備主要用于LCB、PDP、PCB等相關的光電產業，為其研發、制造提供所需的檢測設備。具有觀察OLB壓接粒子分布、液晶板表面貼附的異物、液晶板劃傷情況、面板上的Bonding效果測量導電粒子大小、數量等功能。產品特點：金相光學觀察系統，JTM-260180A可以觀察110寸液晶面板可實現明暗視野的觀察以及導電粒子微分干涉觀察。系統使用人體工學設計理念設計，符合友好化測量、采用主動式減震系統，花崗石本體結構，能剛好的克服環境震動問題。人性化計算機測量模式，有效提...
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復合探針測量儀
2019-08-21
復合探針影像測量儀探針主要應用于接觸式測量，影像與探針配合，互補滿足：空間高度、空間平面度、圓柱、圓錐、球、空間點、空間面等元素的測量。在高精度測量要求的汽車配件，模具零部測量的應用。在高精度測量要求的汽車配件，模具零部測量的應用。強大的VCAD-3D測量軟件，可實現所有二維平面測量功能，還具備拍地圖、產品輪廓掃描、SPC統計、手動CNC、宏測量等功能。自帶測頭可實現部分三維尺寸接觸式測量。技術參數：儀器型號PZ-3020TPZ-4030TPZ-5040T量測行程300*20...
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金相顯微鏡價格
2019-08-21
測量金相顯微鏡該光學自動化檢測設備主要用于LCB、PDP、PCB等相關的光電產業，為其研發、制造提供所需的檢測設備。具有觀察OLB壓接粒子分布、液晶板表面貼附的異物、液晶板劃傷情況、面板上的Bonding效果測量導電粒子大小、數量等功能。測量金相顯微鏡金相光學觀察系統，JTM-260180A可以觀察110寸液晶面板可實現明暗視野的觀察以及導電粒子微分干涉觀察。系統使用人體工學設計理念設計，符合友好化測量、采用主動式減震系統，花崗石本體結構，能剛好的克服環境震動問題。人性化計算...
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測量投影儀
2019-08-21
CPJ-6020V落地式投影儀成像清晰，放大倍率準確。投影屏直徑Φ600mm，大物方視場為Φ120mm，可滿足大尺寸零件的輪廓測量和坐標測量，配合尋邊器可實現自動尋邊采點，消除人眼瞄準的誤差。技術規格參數：型號CPJ-6020VX軸坐標行程(mm)200Y軸坐標行程(mm)100金屬臺面尺寸(mm)404×265玻璃臺面尺寸(mm)270×170數顯分辨力(μm)0.5示值誤差(mm)2.5+L/75(L為被測物體長度，單位：mm)Z軸坐標行程(mm)50(調...
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TOM-Ⅱ 影像儀
2019-08-21
影像測量儀主要適合測量精密、微小的工件，價格便宜、結構簡單，操作方便，在測量行業內得到好評。本儀器在秉承了PZ-TOM-II基礎之上加以改進，使您更加快捷、輕松的完成測量工作。適用于五金機械，冶金模具、汽車航空，電子紡織、科研院校等行業。單視場影像測量儀簡介TOM-Ⅱ系列影像測量儀結合了傳統光學與數字科技，具有軟件功能，可將以往用肉眼在傳統顯微鏡下所觀察到的影像數字化，并將其儲存入電腦中作各種量測、繪圖之用,并可將所得之資料存檔或以電子郵件發送也可以直接轉換為DXF標準交換文...
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鐳射修補顯微鏡
2019-08-20
鐳射修補顯微鏡該設備采用全新的模組化設計，操作簡單、方便、可靠，功能齊全，可應用于治金、半導體、電子等行業的設計、品管、測試、制造等單位，及相關檢測設備、探針工作站、四點探測平臺、鐳射標準、鐳射切割、鐳射加工等等使用該設備采用模組化設計，操作簡單、方便、可靠，功能齊全，可應用于治金、半導體、電子等行業的設計、品管、測試、制造等單位，及相關檢測設備、探針工作站、四點探測平臺、鐳射標準、鐳射切割、鐳射加工等等使用。科研領域：電子、電機、物理、光電、材料、化學、化工、機械、奈米、生...
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LCD檢測顯微鏡
2019-08-20
TFT-LCD檢測顯微鏡該光學自動化檢測設備主要用于LCB、PDP、PCB等相關的光電產業，為其研發、制造提供所需的檢測設備。具有觀察OLB壓接粒子分布、液晶板表面貼附的異物、液晶板劃傷情況、面板上的Bonding效果測量導電粒子大小、數量等功能。TFT-LCD檢測顯微鏡該光學自動化檢測設備主要用于LCB、PDP、PCB等相關的光電產業，為其制造提供所需的檢測設備。具有觀察OLB壓接粒子分布、液晶板表面貼附的異物、液晶板劃傷情況、面板上的Bonding效果測量導電粒子大小、數...
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芯片檢測儀器
2019-08-20
芯片檢測影像測量儀可以測量十五種幾何元素（點,直線,平面,圓,圓弧,橢圓,矩形,鍵槽,圓環,圓柱,圓錐,球,開曲線,閉曲線,焦面,角度和距離），并且可以測量高度,也可以預置基本幾何元素。根據實際測量需求可以選擇接觸式測量---探針測量，也可以選擇非接觸式測量---影像和激光位移器測量。多種測量方法:智能尋邊,整體采點,多段采點,鼠標采點,鄰近采點,十字線采點,放大采點,對比采點。每種芯片產量少則幾千件，多則上萬件。所有的芯片需要全檢，并根據不同的尺寸公差，將產品分成優、良、差...
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